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한국NI, ‘세미콘 코리아 2017’에서 반도체 테스트 통합 솔루션 및 최신 기술 공개

엔지니어 및 과학자들에게 세계에서 가장 까다로운 엔지니어링 문제를 해결할 수 있는 플랫폼 기반 솔루션을 제공하는 내쇼날인스트루먼트(ni.com/korea, 이하 NI)는 오는 2월 8일부터 10일까지 서울 삼성동 코엑스에서 개최되는 반도체 산업 전시회 ‘세미콘 코리아 2017(SEMICON KOREA 2017)’에 참가하여 반도체 테스트 통합 솔루션과 데모를 선보인다고 밝혔다.

이번 전시회에서 한국NI는 반도체 테스트 비용을 절감하고, 테스트 시간을 단축하며, 업계 최고 수준의 측정 정확성을 확보할 수 있는 최신 솔루션들을 공개할 예정이다. NI의 플랫폼 기반 방식은 테스트 전 과정에 걸쳐 효율성을 높여 주고, 각종 문제점들을 손쉽게 해결해 주는 확장 가능한 솔루션을 제공한다.

NI STS(Semiconductor Test System)는 대표적인 솔루션으로 반도체 양산 환경에서 사용할 수 있다. 기존의 대형 ATE보다 작은 작업 공간에서 사용 가능하며, 전력 소모량과 유지보수 노력을 줄여준다. 또한 고성능 테스트가 가능하기 때문에 보다 복잡한 기능이 요구되는 RF 파워 앰프(RF Power Amplifier), 전력 관리 IC(PMIC)와 같은 RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 적합하다. NI WTS(Wireless Test System)는 IoT 디바이스의 다양한 무선 통신 규격을 동시에 테스트할 수 있으며, PXI 기반 자동화 테스트 솔루션은 효율을 극대화시킨다. 이외에도 NI의 그래픽 기반 시스템 디자인 소프트웨어 랩뷰(LabVIEW), R&D와 양산에 적용 가능한 ATE급 벡터 솔루션, 올인원 계측기 버추얼벤치(VirtualBench), 휴대용 데이터 측정 플랫폼, 다채널 오픈쇼트 테스트 등을 데모를 통해 확인할 수 있다.

한국NI 반도체 테스트 솔루션 담당 권순묵 대리는 “이번 행사에서 NI는 랩뷰(LabVIEW)와 PXI 기반의 모듈형 계측기를 이용하여 R&D부터 양산까지 모든 테스트 과정에 동일하게 적용 가능한 테스트 자동화 솔루션을 선보이며, 아울러 반도체 전공정 장비에 적용되는 임베디드 컨트롤/측정 솔루션도 소개할 예정이다”라고 말하고, “고객들이 테스트 및 측정 산업의 글로벌 리더인 NI의 최신 반도체 테스트 장비들을 체험하면서 NI의 기술력을 직접 확인하고 폭넓게 활용할 수 있기를 바란다”고 덧붙였다.

한편, 한국NI 부스(코엑스 3층 D홀 5604)에서는 전시 및 데모 시연과 함께 전문 엔지니어의 제품 상담이 진행될 예정이다. NI 부스 방문자에게는 소정의 기념품을 제공하고, 경품 추첨 이벤트를 통해 NI와 공동 개발한 랩뷰(LabVIEW) 기반의 레고 마인드 스톰을 증정한다.

NI 전시에 대한 보다 자세한 사항은 korea.ni.com/events/tradeshow, NI 제품에 대한 보다 자세한 사항은 www.ni.com/ko-kr/innovations/semiconductor.html에서 확인할 수 있다.

National Instruments 소개
NI는 40년이 넘는 세월 동안 자동화된 테스트 시스템과 측정 시스템을 개발하며 엔지니어가 가장 까다로운 문제들을 해결할 수 있도록 지원해 왔습니다. NI와 함께라면 현재와 가까운 미래는 물론 향후 100년간의 성공을 지원할 창의적인 솔루션을 찾을 수 있습니다.